用于Functional Test 的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同環(huán)境（常溫、高溫），進(jìn)行8site 并行測試分選。
用于Functional Test 的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性。支持IC芯片在不同的溫度（常溫、高溫、低溫）環(huán)境下，進(jìn)行16site 并行測試分選。可實現(xiàn)高精度的溫度控制。
用于Function Test的料管式包裝的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征。最多支持16工位同測、支持常溫、高溫測試要求。
用于Function Test的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性、高精度溫度控制等特征。最多支持16工位同測，支持常溫、高溫、低溫測試要求。
用于System Level Test的IC測試分類，具有高產(chǎn)能、高穩(wěn)定性等特征?？芍С?/12/16工位同測，支持常溫、高溫、低溫測試要求。
用于實驗室環(huán)境的IC測試分類，具備體積小，集成化高等特征。兼容ATE測試機(jī)與SLT測試板設(shè)計，最多支持2工位同測，支持常溫、高溫、低溫測試要求。
公司是從事研發(fā)、生產(chǎn)并銷售半導(dǎo)體芯片測試設(shè)備的高新技術(shù)企業(yè)，屬于集成電路和高端裝備制造產(chǎn)業(yè)，公司深耕集成電路測試分選機(jī)（Test handler）領(lǐng)域，主要產(chǎn)品測試分選機(jī)銷往中國大陸、中國臺灣、歐美、東南亞等全球市場，產(chǎn)品的主要技術(shù)指標(biāo)及功能達(dá)到同類產(chǎn)品的國際先進(jìn)水平。
